美國ASD公司（現隸屬于荷蘭帕納科）重磅推出FieldSpec 4地物光譜儀Hi-Res NG，將光譜分辨率提升至6nm，這進(jìn)一步提高了下一代高光譜成像傳感器的分析精度，是地物光譜儀器的一次重要變革。
更高分辨率的高光譜儀器可以協(xié)助用戶(hù)提高遙感分類(lèi)應用的精度，識別更多之前無(wú)法從高光譜圖像中獲取的點(diǎn)像元信息。為了充分發(fā)揮下一代傳感器的潛能，那么基于地面測量的光譜儀器必須滿(mǎn)足或者超越成像傳感器的光譜分辨率，如果分辨率達不到高光譜成像的要求，那么數據在后處理過(guò)程中會(huì )因插值而丟失重要的光譜信息。
FieldSpec 4 Hi-Res NG 地物光譜儀大大提升了光譜分辨率，正是為了滿(mǎn)足下一代高光譜成像系統（如：AVRIS-NG、HySpex ODIN-1024）的嚴格要求而設計。除了優(yōu)越的光譜分辨率，像所有ASD地物光譜儀一樣，FieldSpec 4 Hi-Res NG采用InGaAs SWIR檢測器，在350nm到2500nm的全光譜范圍進(jìn)行1875波段（編碼通道）的檢測，從而提供最小的采樣間隔（采樣帶寬），確?？梢詸z出樣品最細微的光譜特征。
性能指標
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波長(cháng)范圍
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350-2500 nm
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光譜分辨率
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3 nm @ 700 nm
6 nm @ 1400/2100 nm
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采樣間隔
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1.4 nm @ 350-1000 nm
1.1 nm @ 1001-2500 nm
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掃描時(shí)間
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100 ms
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雜散光
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VNIR 0.02%, SWIR 1 & 2 0.01%
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波長(cháng)重復性
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0.1 nm
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波長(cháng)準確度
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0.5 nm
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最大輻射
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VNIR 2 倍太陽(yáng)光, SWIR 10 倍太陽(yáng)光
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通道數
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2151
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檢測器
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VNIR 檢測器 (350-1000 nm): 512 像元硅陣列傳感器
SWIR 1 檢測器 (1001-1800 nm): InGaAs 檢測器, TE 制冷
SWIR 2 檢測器 (1801-2500 nm): InGaAs 檢測器, TE 制冷
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輸入
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1.5 m 光纖(25° 視場(chǎng)). 可選前置鏡頭改變視場(chǎng)角
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等效噪聲輻射（外接光纖）
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VNIR 1.0 X10-9 W/cm2/nm/sr @700 nm
SWIR 1 8.0 X10-9 W/cm2/nm/sr @ 1400 nm
SWIR 2 8.0 X10-9 W/cm2/nm/sr @ 2100 nm
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重量
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5.44 kg
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校準
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波長(cháng), 絕對反射率, 輻射度*, 福照度*.所有的校準可NIST溯源. (*輻射定標可選)
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電腦
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Windows®
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保修
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一年整機保修（包含專(zhuān)家支持）
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